日本三丰QVWLI Pro非接触3D测量系统363-716-10配备白光干涉仪的复合型高精度3D测量仪
非接触3D测量系统QVWLI Pro
● Hyper QVWLI 是QV配备白光干涉仪的复合型高精度3D测量系统。
● 可根据WLI 光学系统获取的3D数据进行三维表面形状分析/三维粗糙度分析。还可根据3D 数据， 进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量。
● Hyper QVWLI 是QV配备白光干涉仪的复合型高精度3D测量系统。
● 可根据WLI 光学系统获取的3D数据进行三维表面形状分析/三维粗糙度分析。还可根据3D 数据， 进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量。
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