日本mitutoyo三丰MF-A1010D测量显微镜176-861-11光学测量显微镜MF系列

测量显微镜MF/MF-U系列
简单的调整对焦快速AF功能：以约1秒的惊人速度，就可以在测量的表面进行自动对焦。即使对表面凹凸不平的工件，也可以从繁杂的对焦调整中解放出来，可以轻松自如的进行测量，极大地降低了操作人员的疲
劳程度。
简单的测量单击工具：通过使用图像测量系统VISION UNIT，单击边缘就可以简单地进行测量。另外，通过单击功能可以一次获取多个测量点，所以与传统的“用十字线一个一个的测量各测量点”的方法相比，可以大幅度提高速度和减少差异。
简单的定位快速释放功能：装配手动工作台实现直观定位，无需确认手边状况就可以切换粗调操作·微调操作的快速释放功能。无需测量准备的时间。