日本mitutoyo三丰554-001白光干涉仪WLI-Unit-005非接触式3D形状测量仪3D粗糙度仪
白光干涉光学单元WLI-Unit
特点：
• 可使用白光干涉进行非接触式高精度细微表面性状测量，例如，3D形状测量、3D粗糙度测量
• 不依赖于光学倍率的高度测量精度 即使是低倍率镜头，也可使用Z向高分辨力进行测量
• 高纵横比测量不依赖于光学系统的NA进行检测，支持高纵横比形状测量
• 抗干扰振动的高稳定性
• 小型轻便
特点：
• 可使用白光干涉进行非接触式高精度细微表面性状测量，例如，3D形状测量、3D粗糙度测量
• 不依赖于光学倍率的高度测量精度 即使是低倍率镜头，也可使用Z向高分辨力进行测量
• 高纵横比测量不依赖于光学系统的NA进行检测，支持高纵横比形状测量
• 抗干扰振动的高稳定性
• 小型轻便
非接触·高精度·在线测量系统激光测径仪LSM-02-A/30-A/CU-A
544-123,544-124,LSM-02-A,LSM-30-A,544-121,LSM-CU-A,02AGQ390,LSM-CC-A,
三丰激光测量仪,三丰激光测径仪,mitutoyo激光测径仪,
非接触式线性激光传感器SurfaceMeasure1008S
非接触3D测量传感器WLI-Unit
554-001,554-002,554-003,WLI-Unit-003,WLI-Unit-005,WLI-Unit-010,
- 无现货产品
单价：
¥
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